| 1. |
2025/03 |
六方晶窒化ホウ素上の相変化酸化物薄膜の局所ナノ構造を用いた低電圧抵抗スイッチ機能設計(応用物理学会春季学術講演会)
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| 2. |
2024/09 |
Charge trap memory based on MoS2 with He+-irradiated h-BN as a trapping layer(応用物理学会秋季学術講演会)
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| 3. |
2024/09 |
MoTe2縦型伝導素子における電極材料の影響(応用物理学会秋季学術講演会)
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| 4. |
2024/09 |
単結晶hBN上に作製したマイクロ狭窄 VO2素子における局所的な電流誘起抵抗スイッチ(応用物理学会秋季学術講演会)
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| 5. |
2024/09 |
六方晶窒化ホウ素中のホウ素欠陥を利用した動的核スピン分極(日本物理学会年次大会)
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| 6. |
2023/09 |
単結晶hBNフレーク上に作製したVO2の電流誘起抵抗スイッチングにおけるフレーク境界の効果(応用物理学会秋季学術講演会)
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| 7. |
2023/09 |
二次元原子層薄膜を用いたアンチ・アンバイポーラトランジスタによるロジックインメモリ素子の開発(応用物理学会秋季学術講演会)
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| 8. |
2023/03 |
ドメイン閉じ込めによるVO2/hBNでのステップ電流スイッチ(応用物理学会春季学術講演会)
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| 9. |
2023/03 |
二層-二層グラフェン/hBN超格子素子のキャリア輸送特性(応用物理学会春季学術講演会)
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| 10. |
2022/11 |
Nano/micro-scale phase change electronics using functional oxides/2D material(MNC2022)
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| 11. |
2022/11 |
Step-like electric current switching in VO2/hBN device using individual metallic domains(MNC2022)
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| 12. |
2022/09 |
グラファイト/MoTe2/グラファイト積層構造の作製と電気伝導特性評価(応用物理学会秋季学術講演会)
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| 13. |
2022/09 |
二次元薄膜材料を用いたアンチ・アンバイポーラトランジスタによる論理演算素子の開発(応用物理学会秋季学術講演会)
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| 14. |
2022/03 |
バブルフリー転写法による高品質ファンデルワールス積層構造の作製(応用物理学会春季学術講演会)
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| 15. |
2022/03 |
モアレ超格子二重量子ドット素子における単一キャリア輸送(応用物理学会春季学術講演会)
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| 16. |
2021/09 |
Effect of Light Illumination towards Enhanced Selectivity of Volatile Organic Compound Gas Sensor using a Single-Device ReS2 FET(SSDM2021)
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| 17. |
2021/09 |
Transport Properties in Folded Bilayer-Bilayer Graphene/Hexagonal Boron Nitride Superlattices under High Magnetic Fields(SSDM2021)
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| 18. |
2021/09 |
アンチ・アンバイポーラトランジスタの開発 Ⅵ(応用物理学会秋季学術講演会)
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| 19. |
2020/09 |
Gate-Bias Assisted Humidity Sensor based on ReS2 Field-Effect Transistors(SSDM2020)
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| 20. |
2020/09 |
Negative magnetoresistance of helium-ion-irradiated graphene in the strong Anderson localization regime(応用物理学会秋季学術講演会)
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| 21. |
2020/09 |
Observation of charge carrier localization-induced negative magnetoresistance at room temperature in helium-ion-irradiated defective graphene(SSDM2020)
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| 22. |
2020/09 |
モアレ超格子二重量子ドット素子における量子ホール効果と単一キャリア輸送特性(日本物理学会 秋季大会)
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| 23. |
2020/03 |
Negative magnetoresistance in helium-ion-irradiated graphene(応用物理学会春季学術講演会)
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| 24. |
2020/03 |
バブルフリー転写法による高品質グラフェン/hBN素子の作製(応用物理学会春季学術講演会)
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| 25. |
2020/03 |
折り重ね二層/二層グラフェン素子の作製とキャリア輸送特性(応用物理学会春季学術講演会)
|
| 26. |
2020/03 |
二層グラフェン/hBN超格子における単キャリア輸送特性(応用物理学会春季学術講演会)
|
| 27. |
2020/03 |
二層グラフェン/六方晶窒化ホウ素超格子二重量子ドットにおける単キャリア輸送特性(日本物理学会 年次大会)
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| 28. |
2019/09 |
VO2/MoS2界面におけるフェルミレベルピンニング(応用物理学会秋季学術講演会)
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| 29. |
2019/09 |
六方晶窒化ホウ素/2層グラフェン超格子素子における超伝導(応用物理学会秋季学術講演会)
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| 30. |
2019/03 |
Study on magnetoresistance and carrier localization in graphene with defects induced by helium ion microscopy(応用物理学会春季学術講演会)
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| 31. |
2019/03 |
ヘリウムイオン照射グラフェンにおける磁気抵抗のドーズ量依存性(応用物理学会春季学術講演会)
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| 32. |
2019 |
高温超伝導体Bi2212/グラフェン接合素子の作製(日本物理学会 秋季大会)
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| 33. |
2018/09 |
Carrier transport analysis of graphene with crystalline defects generated by helium ion beam irradiation(応用物理学会秋季学術講演会)
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| 34. |
2018/09 |
Charge Trapping and Hysteresis Behavior in ReS2/SiO2 and ReS2/hBN Field Effect Transistors(応用物理学会秋季学術講演会)
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| 35. |
2018/09 |
Few-Layer ReS2 based Vertical p-n van der Waals Junction for Photosensing(SSDM2018)
|
| 36. |
2018/09 |
Gap Width Dependence of Transport through Quantum Point Contact in hBN/Graphene/hBN in the Quantum Hall Regime(SSDM2018)
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| 37. |
2018/09 |
Role of Traps in Few Layer n-ReS2 Phototransistor on top of p-MoTe2 Layer(応用物理学会秋季学術講演会)
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| 38. |
2018/09 |
ヘリウムイオン照射グラフェンの負の磁気抵抗(応用物理学会秋季学術講演会)
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| 39. |
2018/06 |
“In-situ measurement of electron conduction modulation in graphene by helium ion beam irradiation”(2nd International HeFIB Conference on Helium and Emerging Focused Ion Beams)
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| 40. |
2017/03 |
Charge transport control in graphene by helium ion irradiation and patterning(応用物理学会春季学術講演会)
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| 41. |
2016/09 |
グラフェン量子ホール状態におけるpn接合でのショット雑音(日本物理学会 秋季大会)
|
| 42. |
2016/03 |
WSe2表面酸化層のp型コンタクト・ドーパント応用(応用物理学会春季学術講演会)
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| 43. |
2016/03 |
“Weak Fermi Level Pinning Effect in Schottky Junction of α-MoTe2”(American Physical Society March Meeting 2016)
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| 44. |
2015/09 |
WSe2原子層の層数制御酸化(応用物理学会秋季学術講演会)
|
| 45. |
2015/09 |
グラフェン薄膜における1/f雑音の測定(日本物理学会 秋季大会)
|
| 46. |
2015/09 |
遷移金属ダイカルコゲナイドα-MoTe2のショットキー接合における注入キャリアの極性(応用物理学会秋季学術講演会)
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| 47. |
2015/03 |
“Electrostatic control of polarity of α-MoTe2 transistors with dual top gates”(American Physical Society March Meeting 2015)
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| 48. |
2015/03 |
グラフェンp-n接合における1/f雑音の測定(日本物理学会 年次大会)
|
| 49. |
2014/09 |
CDV成長グラフェンを用いたウェハスケールのトランジスタ作製(応用物理学会秋季学術講演会)
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| 50. |
2014/09 |
“Wafer Scale Fabrication of Transistors using CVD-Grown Graphene and its Application to Inverter Circuit”(2014 International Conference on Solid State Devices and Materials (SSDM))
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| 51. |
2014/09 |
グラフェンpn接合における伝導度測定とショット雑音の試み(日本物理学会 秋季大会)
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| 52. |
2014/03 |
pn接合を用いたグラフェン量子ホールエッジ状態のカイラリティ制御(日本物理学会 年次大会)
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| 53. |
2013/10 |
“Field Effect Control of Carrier Conduction in He Ion Irradiated Graphene”(AVS 60th International Symposium & Exhibition)
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| 54. |
2013/09 |
CVD成長多層グラフェン配線へのインターカレーション(応用物理学会秋季学術講演会)
|
| 55. |
2013/05 |
“Current on-off operation of graphene transistor with dual gates and He ion irradiated channel”(40th International Symposium on Compound Semiconductors (ISCS 2013))
|
| 56. |
2013/03 |
デュアルゲート構造とヘリウムイオン照射チャネルを有するグラフェントランジスタの極性可変動作(応用物理学会春季学術講演会)
|
| 57. |
2012/12 |
“Electrostatically-Reversible Polarity of Dual-Gated Graphene Transistors with He Ion Irradiated Channel; Toward Reconfigurable CMOS Applications”(2012 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM))
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| 58. |
2012/09 |
”Room Temperature On-Off Operation of Current in He Ion Irradiated Graphene Sheet”(SSDM2012)
|
| 59. |
2012/09 |
ヘリウムイオン照射されたグラフェンシートの室温における電流のゲート変調(応用物理学会秋季学術講演会)
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| 60. |
2012/04 |
“Unipolar Field Effect Transistor Based on Bilayer Graphene with Periodic Potential Modulation”(MRS 2012 Spring Meeting)
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| 61. |
2012/03 |
ゲート制御されたP-I-N接合を有するグラフェンナノリボン素子(応用物理学会春季学術講演会)
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| 62. |
2012/02 |
“Gate-Controlled P-I-N Junction Switching Device with Graphene Nanoribbon”(American Physical Society March Meeting 2012)
|
| 63. |
2011/09 |
“Gating Operation of Transport Current in Graphene Nanoribbon”(SSDM2011)
|
| 64. |
2011/08 |
CVDグラフェンのグレインの解析とデバイスへの応用(応用物理学会秋季学術講演会)
|
| 65. |
2011/08 |
ヘリウムイオン顕微鏡により作製したグラフェンナノリボンにおける電流のオン・オフ特性(応用物理学会秋季学術講演会)
|
| 66. |
2010/09 |
量子ホール状態のグラフェン量子ポイントコンタクトにおける量子カオス的輸送(日本物理学会 秋季大会)
|
| 67. |
2008/09 |
High Mobility sub-60nm Gate Length Germanium-On-Insulator Channel pMOSFETs with Metal Source/Drain and TaN MIPS Gate(SSDM2008)
|
| 68. |
2008/09 |
SSON構造より形成したGAA型ひずみSi-MOSFETの試作とひずみのNBD評価(応用物理学会秋季学術講演会)
|
| 69. |
2007/09 |
高温水素エッチングによるSOIおよびSGOI-Fin幅揺らぎの低減(応用物理学会秋季学術講演会)
|
| 70. |
2007/09 |
立体酸化濃縮法を用いて作製したGe細線MOSFET(応用物理学会秋季学術講演会)
|
| 71. |
2007/03 |
TaNゲート及びNiSiGeソースドレインSGOI-MISFETに於けるホール移動度のGe組成依存性(応用物理学会秋季学術講演会)
|
| 72. |
2007/03 |
ひずみSOI基板上のSiGeの酸化濃縮によるひずみSiGe-on-insulator層の形成(応用物理学会春季学術講演会)
|
| 73. |
2007/03 |
酸化濃縮法によるGe-on-Insulator(GOI) の高純度化条件(応用物理学会春季学術講演会)
|
| 74. |
2006/09 |
GOI/SGOI基板表面のGeエピタキシャル成長前クリーニング方法の検討(応用物理学会春季学術講演会)
|
| 75. |
2006/08 |
ひずみSGOI-pMOSFETにおける高温下での正孔移動度増大(応用物理学会秋季学術講演会)
|
| 76. |
2006/05 |
“Generation of Crystal Defects in Ge-on-Insulator (GOI) Layers in Ge-condensation Process”(3rd International SiGe Technology and Device Meeting)
|
| 77. |
2006/03 |
一軸歪みSGOIチャネルを有する高性能マルチゲートpMOSFETs(応用物理学会春季学術講演会)
|
| 78. |
2006/03 |
酸化濃縮法によるGe-on-Insulator(GOI)層の形成過程における結晶欠陥の発生(応用物理学会春季学術講演会)
|
| 79. |
2006/03 |
二段階酸化濃縮法による低貫通転位密度SGOI構造の作製(応用物理学会春季学術講演会)
|
| 80. |
2006/02 |
“Fabrication of Ultra-thin Ge-on-Insulator (GOI) Layers by Ge-Condensation Technique”(JAPAN NANO 2006)
|
| 81. |
2005/09 |
Metal Source/Drain Germanium-on-Insulator MOSFET(MSD-GOI MOSFET)の動作実証(応用物理学会秋季学術講演会)
|
| 82. |
2005/09 |
Performance Enhancement under High-Temperature Operation and Physical Origin of Mobility Characteristics in Ge-rich strained SiGe-on-Insulator pMOSFETs(SSDM2005)
|
| 83. |
2005/09 |
“High Mobility Fully-Depleted Germanium-on-Insulator pMOSFET with 32-nm-Thick Ge Channel Layer Formed by Ge-Condensation Technique”(SSDM2005)
|
| 84. |
2005/09 |
局所酸化濃縮法を用いたひずみSOI/ひずみSGOIハイブリッドCMOS技術(応用物理学会秋季学術講演会)
|
| 85. |
2005/09 |
酸化濃縮法による完全空乏型Ge-on-Inuslator pMOSFETの作製と高移動度実証(日本物理学会 秋季大会)
|
| 86. |
2005/03 |
バックゲート電圧によるひずみSOI素子特性の変調効果(応用物理学会春季学術講演会)
|
| 87. |
2004/09 |
“Formation Mechanism of Ge-on-Insulator Layers by Ge-condensation Technique”(ECS 2004 Joint International Meeting, SiGe: Materials, Processing, and Devices)
|
| 88. |
2004/09 |
ヘテロソース構造を用いた高MOSFET(応用物理学会秋季学術講演会)
|
| 89. |
2004/09 |
局所酸化濃縮により作製されたSiGe-on-Insulator pMOSFETにおける高移動度の実証(応用物理学会秋季学術講演会)
|
| 90. |
2004/09 |
酸化濃縮法によるひずみSOIウェハーの作製(応用物理学会秋季学術講演会)
|
| 91. |
2004/03 |
(110)面ひずみ及び無ひずみ素子における正孔移動度特性(応用物理学会春季学術講演会)
|
| 92. |
2004/03 |
NBD法によるStrained-Si-On-Nothing(SSON)構造のひずみの評価(応用物理学会春季学術講演会)
|
| 93. |
2004/03 |
(110)表面を有するひずみSi/SGOI基板の作成技術(応用物理学会春季学術講演会)
|
| 94. |
2004/03 |
ひずみSiGe薄膜成長時の表面ラフネス・界面転位数密度の変化と格子緩和(応用物理学会春季学術講演会)
|
| 95. |
2004/03 |
酸化濃縮法による高純度Ge-on-Insulator(GOI)層の作製(応用物理学会春季学術講演会)
|
| 96. |
2003/12 |
Channel structure design, fabrication and carrier transport properties of strained-Si/SiGe-on-insulator (strained-SOI) MOSFETs(IEEE International Electron Devices Meeting 2003)
|
| 97. |
2003/12 |
Physical mechanism for high hole mobility in [110]-surface strained- and unstrained-MOSFETs(IEEE International Electron Devices Meeting 2003 (IEDM2003))
|
| 98. |
2003/11 |
Formation of strained Si/SiGe on insulator structure with a [110] surface(2003 IEEE International Conference on SOI)
|
| 99. |
2003/11 |
Strain evaluation for thin strained-Si on SGOI and strained-Si on nothing (SSON) structures using nano-beam electron diffraction (NBD)(2003 IEEE International Conference on SOI)
|
| 100. |
2003/09 |
(110)Si基板上へのSiGe及びSiエピタキシャル成長の検討(応用物理学会秋季学術講演会)
|
| 101. |
2003/09 |
(110)面ひずみSOI-CMOS素子(応用物理学会秋季学術講演会)
|
| 102. |
2003/09 |
Fabrication of Ultra-Thin Strained Ge-on-Insulator Substrate by Ge-Condensation Technique(SSDM2003)
|
| 103. |
2003/09 |
Nano-electron beam diffraction(NBD)による薄膜ひずみSOI層の局所評価(応用物理学会秋季学術講演会)
|
| 104. |
2003/09 |
“Fabrication of Ultra-Thin Strained Ge-on-Insulator Substrate by Ge-condensation Technique”(2003 International Conference on Solid State Devices and Materials (SSDM))
|
| 105. |
2003/09 |
酸化濃縮法による極薄膜ひずみGe-on-Insulator層の作成(応用物理学会秋季学術講演会)
|
| 106. |
2003/08 |
(110)-surface strained-SOI CMOS devices with higher carrier mobility(2003 Symposium on VLSI Technology)
|
| 107. |
2003/03 |
“Strain relaxation mechanism of SiGe-on-Insulator layers in the Ge-condensation technique”(Third International Conference on SiGe(C) Epitaxy and Hetereostructures (ICSi3))
|
| 108. |
2003/02 |
Strained SOI technology for high-performance, low-power CMOS applications(2003 IEEE International Solid-State Circuits Conference (ISSCC2003))
|
| 109. |
2002/09 |
Experimental Evidence of Low Dislocation Density of SiGe-on-Insulator Substrates Fabricated by Oxidizing SiGe/SOI Structures(SSDM2003)
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