カガワ　ユタカ   香川　豊    所属   学長 学長    職種   教授
言語種別	英語
発行・発表の年月	2015/09
形態種別	学術論文
査読	査読あり
標題	Moiré techniques based on memory function of laser scanning microscope for deformation measurement at micron/submicron scales
執筆形態	共著
掲載誌名	International Journal of Automation Technology
掲載区分	国外
出版社・発行元	Fuji Technology Press
巻・号・頁	9(5),pp.494-501
著者・共著者	Q.Wang, H.Tsuda, S.Kishimoto, Y.Tanaka, Y.Kagawa
概要	原著論文