カガワ ユタカ
  香川 豊
   所属   片柳研究所 研究者
   職種   教授
言語種別 日本語
発行・発表の年月 2011
形態種別 学術論文
標題 Development of a pattern to measure multiscale deformation and strain distribution via in situ FE-SEM observations
執筆形態 共著
掲載誌名 NANOTECHNOLOGY
巻・号・頁 22(11),115704頁
著者・共著者 Y. Tanaka, K. Naito, S. Kishimoto, Y. Kagawa
概要 原著論文