カガワ ユタカ
  香川 豊
   所属   片柳研究所 研究者
   職種   教授
言語種別 日本語
発行・発表の年月 2000
形態種別 国際会議論文
査読 査読あり
標題 Interface damage mechanism during high temperature fatigue test in SiC fiber-reinforced ti-15-3 matrix composite
執筆形態 共著
掲載誌名 PAPER PRESENTED AT THE 2000 TMS ANNUAL MEETING
巻・号・頁 157頁
著者・共著者 Y. Tanaka, Y. Kagawa, Y.-F. Liu, C. Masuda