カガワ ユタカ
  香川 豊
   所属   片柳研究所 研究者
   職種   教授
言語種別 日本語
発行・発表の年月 2015
形態種別 学術論文
標題 Development of microscale pattern for digital image correlation up to 1400°C
執筆形態 共著
掲載誌名 OPTICS AND LASERS IN ENGINEERING
巻・号・頁 68,7-15頁
著者・共著者 Y. Dong, H. Kakisawa, Y. Kagawa
概要 原著論文