カガワ ユタカ
  香川 豊
   所属   片柳研究所 研究者
   職種   教授
言語種別 日本語
発行・発表の年月 2003/10
形態種別 学術論文
標題 Effect of metal layerthickness on thedecohesion of highpurity copper-sapphireinterfaces
執筆形態 共著
掲載誌名 Actamaterialia
巻・号・頁 51(17),5113-5121頁
概要
 金属とセラミックスの接合の剥離抵抗に及ぼす金属層の厚さの影響についてモデル実験を行った。その結果を定量的に解析した。また、理論との比較検討も行い、金属層の厚さの影響を明確にした。