ホソノ シゲル
  細野 繁
   所属   コンピュータサイエンス学部 コンピュータサイエンス学科
   職種   准教授
言語種別 日本語
発行・発表の年月 2017/02
形態種別 学術論文
標題 Genetic Algorithm-based Test Generation for Software Product Line with the Integration of Fault Localization Techniques
執筆形態 共著
掲載誌名 Journal of Empirical Software Engineering
著者・共著者 Xuelin Li, W. Eric Wong, Ruizhi Gao, Linghuan Hu, Shigeru Hosono
概要 副筆
プロダクトラインの考え方に基づき遺伝的アルゴリズムを応用したテストケースを生成する方法に関する.
51ページ(英文).
https://link.springer.com/article/10.1007/s10664-016-9494-9
(編者:Xuelin Li,NEC(応募者の所属)との共同研究を含む)
doi:10.1007/s10664-016-9494-9
DOI doi:10.1007/s10664-016-9494-9
外部リンクURL https://link.springer.com/article/10.1007/s10664-016-9494-9