ホソノ　シゲル   細野　繁    所属   コンピュータサイエンス学部 コンピュータサイエンス学科    職種   教授
言語種別	日本語
発行・発表の年月	2017/02
形態種別	学術論文
標題	Genetic Algorithm-based Test Generation for Software Product Line with the Integration of Fault Localization Techniques
執筆形態	共著
掲載誌名	Journal of Empirical Software Engineering
著者・共著者	Xuelin Li, W. Eric Wong, Ruizhi Gao, Linghuan Hu, Shigeru Hosono
概要	副筆 プロダクトラインの考え方に基づき遺伝的アルゴリズムを応用したテストケースを生成する方法に関する． 51ページ（英文）． https://link.springer.com/article/10.1007/s10664-016-9494-9 （編者：Xuelin Li，NEC（本人）との共同研究を含む） doi:10.1007/s10664-016-9494-9
DOI	doi:10.1007/s10664-016-9494-9
外部リンクURL	https://link.springer.com/article/10.1007/s10664-016-9494-9