マエダ　ナリヒコ   前田　就彦    所属   工学部 電気電子工学科    職種   教授
言語種別	日本語
発行・発表の年月	2004/06
形態種別	国際会議論文
査読	査読あり
標題	（国際学会論文）Superior Suppression of Gate Current Leakage in Al2O3/Si3N4 Bilayer-Based AlGaN/GaN Insulated Gate Heterostructure Field-Effect Transistors
執筆形態	共著
掲載誌名	EMC2004(2004 Electric Materials Conference)
巻・号・頁	Notre Dame, USA
著者・共著者	C. X. Wang, N. Maeda, M. Hiroki, T. Tawara, T. Makimoto, N. Kobayashi, and T. Enoki
概要	副筆