セキガワ　タカヒロ   SEKIGAWA,Takahiro   関川　貴洋    所属   片柳研究所 研究者    職種   助教
言語種別	日本語
発行・発表の年月	2001/01
形態種別	学術論文
標題	Y2SiO5/SiC被覆の希薄酸素中での酸化挙動
執筆形態	共著
掲載誌名	日本金属学会誌
掲載区分	国内
巻・号・頁	65(1)
概要	Y2SiO5/SiC被覆を宇宙往還機の飛行経路から予測される温度パターンで繰り返し加熱し，酸化による質量変化を測定するとともに，走査型レーザー顕微鏡による高温での被覆表面のその場観察，酸化により生成したガスの高温質量分析を行い，Y2SiO5/SiC被覆の耐酸化性および劣化機構を評価した。