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マエダ ナリヒコ
前田 就彦 所属 工学部 電気電子工学科 職種 教授 |
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| 言語種別 | 日本語 |
| 発行・発表の年月 | 2009/06 |
| 形態種別 | 国際会議論文 |
| 査読 | 査読あり |
| 標題 | (国際学会論文)Characterization of Contact Resistance of Al, Ti, and Ni on High-quality InN Films grown by RF-MBE |
| 執筆形態 | 共著 |
| 掲載誌名 | EMC2009(Electric Materials Conference 2009) |
| 巻・号・頁 | Pennsylvania, USA |
| 著者・共著者 | S. Kikuchi, N. Maeda, T. Yamaguchi, and Y. Nanishi, |
| 概要 | 副筆 |