カガワ ユタカ
香川 豊 所属 学長 学長 職種 教授 |
|
言語種別 | 日本語 |
発行・発表の年月 | 2011 |
形態種別 | 学術論文 |
標題 | Development of a pattern to measure multiscale deformation and strain distribution via in situ FE-SEM observations |
執筆形態 | 共著 |
掲載誌名 | NANOTECHNOLOGY |
巻・号・頁 | 22(11),115704頁 |
著者・共著者 | Y. Tanaka, K. Naito, S. Kishimoto, Y. Kagawa |
概要 | 原著論文 |