タナカ　ヨシヒサ   田中　義久    所属   片柳研究所 研究者    職種   特別研究教授
言語種別	日本語
発行・発表の年月	2011/11
形態種別	学術論文
標題	Development of a pattern to measure multiscale deformation and strain distribution via in situ FE-SEM observations
執筆形態	共著
掲載誌名	Nanotechnology
概要	主筆 積層異方性構造を持つCFRPに荷重が作用した場合、積層界面や繊維／樹脂界面に複雑な荷重伝達が作用し剥離を引起す場合がある。しかし複雑な変形挙動やひずみ分布を定量的に計測評価する手法がなかった。本論文では、FE-SEM中でのその場負荷試験を行い、界面不均一変形挙動・ひずみ分布をマルチスケールで計測評価するためのマルチスケールパターンを開発し積層CFRPに応用した。 「ひずみ計測用パターン」：特許登録第5429864