ナカハライ　シュウ   中払　周    所属   工学部 電気電子工学科    職種   教授
言語種別	英語
発行・発表の年月	2024/08
形態種別	著書
査読	査読あり
招待論文	招待あり
標題	Helium-ion microscopy and its applications in nanoscale devices
執筆形態	共著
掲載誌名	Outlooking beyond Nanoelectronics and Nanosystems: Ultra Scaling, Pervasiveness, Sustainable Integration, and Biotic Cross-Inspiration
掲載区分	国外
出版社・発行元	Jenny Stanford Publishing
巻・号・頁	pp.139-213
総ページ数	11
担当範囲	3.3 Defect Engineering of Graphene for Carrier Conduction Tuning (p.176-p.186)
国際共著	国際共著
著者・共著者	Ogawa, Shinichi; Hlawacek, Gregor; Liu, Fayong; Nakaharai, Shu; Sarkar, Nirjhar; Cybartie, Shane