タカギ　シゲユキ   高木　茂行    所属   工学部 電気電子工学科    職種   教授
言語種別	英語
発行・発表の年月	2003/12
形態種別	学術論文
査読	査読あり
標題	Statistical study of subthreshold characteristics in polycrystalline silicon thin-film transistor
執筆形態	共著
掲載誌名	Journal of Applied Physics
出版社・発行元	The American Institute of Physics
巻・号・頁	94(12),pp.7789-7795
著者・共著者	oshiyuki Kitahara, Nobuyuki Sano