ナカハライ シュウ
中払 周 所属 工学部 電気電子工学科 職種 教授 |
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言語種別 | 英語 |
発行・発表の年月 | 2004 |
形態種別 | 国際会議論文 |
査読 | 査読あり |
標題 | “Device characterizations and physical models of strained-Si channel CMOS” |
執筆形態 | 共著 |
掲載誌名 | Proceedings of the 2004 International conference on Microelectronic Test Structures |
掲載区分 | 国外 |
巻・号・頁 | pp.133 |
著者・共著者 | S. Takagi, T. Maeda, T. Numata, T. Mizuno, K. Usuda, A. Tanabe, T. Tezuka, S. Nakaharai, J. Koga, T. Irisawa, Y. Moriyama, N. Hirashita, N. Sugiyama, |