ナカハライ シュウ
中払 周 所属 工学部 電気電子工学科 職種 教授 |
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言語種別 | 英語 |
発行・発表の年月 | 2006 |
形態種別 | 国際会議論文 |
査読 | 査読あり |
標題 | “Generation of crystal defects in Ge-on-insulator (GOI) layers in Ge-condensation process” |
執筆形態 | 共著 |
掲載誌名 | Third International SiGe Technology and Device Meeting |
掲載区分 | 国外 |
巻・号・頁 | pp.208 |
担当区分 | 筆頭著者,責任著者 |
著者・共著者 | S. Nakaharai, T. Tezuka, N. Hirashita, E. Toyoda, Y. Moriyama, N. Sugiyama and S. Takagi, |