マエダ ナリヒコ
前田 就彦 所属 工学部 電気電子工学科 職種 教授 |
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言語種別 | 英語 |
発行・発表の年月 | 2018/11 |
形態種別 | 国際会議論文 |
査読 | 査読あり |
標題 | Proposal of GaN oxide-formed two-step wet etching process |
執筆形態 | 共著 |
掲載誌名 | Abstract of International Workshop on Nitride Semiconductors 2018 |
掲載区分 | 国外 |
出版社・発行元 | Committee of International Workshop on Nitride Semiconductors |
巻・号・頁 | pp.304-304 |
著者・共著者 | Yasuharu Kiyoto, Tetsuo Makie, Hiroshi Fujioka, and Narihiko Maeda |
概要 | GaNにおいて低ダメージかつ制御性の高いエッチングの方法として、電気化学的手法を用いたGaNの陽極酸化と酸化物除去を組み合わせた2段階ウェットエッチング法によりデバイスのパターニングが可能であることを示し、新しいエッチング法として提案を行った。 |