マエダ　ナリヒコ   前田　就彦    所属   工学部 電気電子工学科    職種   教授
言語種別	日本語
発行・発表の年月	1996
形態種別	学術論文
査読	査読あり
標題	（ジャーナル論文）High Resolution Electron Microscopy of Dissociated Dislocations in Silicon with A Normal-Incident Electron Beam
執筆形態	共著
掲載誌名	Philosophical Magazine A
巻・号・頁	Vol. 73(No.2),431-441頁
著者・共著者	K. Suzuki, N. Maeda, and S. Takeuchi
概要	副筆